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　　霍爾效應測厚儀是利用磁場作用于載流金屬導體、半導體中的載流子時，產生橫向電位差的物理現(xiàn)象。當測厚儀電流通過金屬箔片時，若在垂直于電流的方向施加磁場，則金屬箔片兩側面會出現(xiàn)橫向電位差。半導體中的霍爾效應比金屬箔片中更為明顯，而鐵磁金屬在居里溫度以下將呈現(xiàn)*的霍爾效應。

　　如果把霍爾元件集成的開關按預定位置有規(guī)律地布置在測厚儀上，當裝在運動物體上的永磁體經過它時，可以從測量電路上測得脈沖信號。根據(jù)脈沖信號列可以傳感出該運動物體的位移。若測出單位時間內發(fā)出的脈沖數(shù)，則可以確定其運動速度。

　　根據(jù)霍爾效應測厚儀原理，人們用半導體材料制成霍爾元件，它具有對磁場敏感、結構簡單、體積小、頻率響應寬、輸出電壓變化大和使用壽命長等優(yōu)點，因此，在測量、自動化、計算機和信息技術等領域得到廣泛的應用。

　　霍爾效應測厚儀已被成功地應用于航空航天領域的質量控制程序中，對由復合材料及非鐵性材料制成的航空航天器的各個部件進行測量。目標鋼線可放入到渦輪葉片的冷卻孔中，而較大的磁性目標鋼珠可用于測量厚達25.4毫米的噴氣式引擎部件。